1范围
本条适用于厚度大于或等于6mm的承压设备用铝及铝合金、钛及钛合金板材的超声检测和质量分级。
2探头选用
2.1探头的选用应按表1的规定进行。
2.2双晶直探头性能要求应符合附录A（规范性附录）的要求。
3检测方法
3.1检测而可选板材的任一轧制表面进行检测。若检测人员认为需要或设计上有要求时，也可选板材的上、下两轧制表面分别进行检测。
3.2扫查方式
a）探头沿垂直于板材压延方向，间距不大于40mm的平行线进行扫查。在板材剖口预定线两侧各
50mm内应作%扫查，扫查示意如图3。
b）根据合同、技术协议书或图样的要求，也可采用其他形式的扫查。
3.3基准灵敏度的确定
将探头置于待检板材完好部位，调节第一次底波高度为荧光屏满刻度的80%，以此作为基准灵敏度。
4耦合方式
耦合方式可采用直接接触法或液浸法。
5缺陷记录
5.1在检测过程中，发现下列情况之一者即作为缺陷处理∶
a）缺陷第一次反射波（F）波高大于或等于满刻度的40%，即F≥40%。
b）缺陷第一次反射波（F）波高低于满刻度的40%，同时，缺陷第一次反射波（F，）波高与底面第一次反射波（B）波高之比大于或等于%，即F/B，≥%。
c）当底面第一次反射波（B，）波高低于满刻度的5%，即B，5%。
5.2缺陷边界范围或指示长度的测定方法
a）检出缺陷后，应在它的周围继续进行检测，以确定缺陷的延伸。
b）用双晶直探头确定缺陷的边界范围或指示长度时，探头的移动方向应与探头的隔声层相垂直，并使缺陷波下降到基准灵敏度条件下荧光屏满刻度的20%或使缺陷第一次反射波波高与底面第一次反射波波高之比为%。此时，探头中心的移动距离即为缺陷的指示长度，探头中心点即为缺陷的边界点。两种方法测得的结果以较严重者为准。
c）H单直探头确定缺陷边界或指示长度时，移动探头，使缺陷第一次反射波波高下降到检测灵敏度条件下荧光屏满刻度的20%或使缺陷第一次反射波波高与底面第一次反射波波高之比为%。此时，探头中心移动距离即为缺陷的指示长度，探头中心即为缺陷的边界点；两种方法测得的结果以较严重者为准。
d）确定底波降低缺陷的边界或指示长度时，移动探头（单直探头或双直探头），使底面第一次反
射波升高到荧光屏满刻度的40%。此时，探头中心移动距离即为缺陷的指示长度，探头中心点即为缺陷的边界点。
6缺陷的评定方法
6.1缺陷指示长度的评定
a）一个缺陷按其指示的最大长度作为该缺陷的指示长度，若单个缺陷的指示长度小于25mm时，可不作记录。
b）两个缺陷相邻间距小于25mm时，其指示长度为两单个缺陷的指示长度再加上间距之和。
6.2单个缺陷指示面积的评定
a）一个缺陷按其指示的最大而积作为该缺陷的单个指示面积。
b）多个缺陷其相邻间距小于相邻较小缺陷的指示长度（取其较大值）时，以各缺陷面积之和作为单个缺陷指示面积。
c）指示面积不计的单个缺陷见表。板材质量分级